什么是AEC？

AEC，是Automotive Electronics Control，汽車(chē)電子協(xié)會(huì)的簡(jiǎn)稱(chēng)?？巳R斯勒、福特、通用汽車(chē)為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量體系標(biāo)準(zhǔn)而建立了汽車(chē)電子委員會(huì)（AEC），是主要汽車(chē)制造商與美國(guó)的主要部件制造商匯聚一起成立的，以車(chē)載電子部件的可靠性以及認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化為目的的團(tuán)體，AEC建立了質(zhì)量控制的標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí)，由于AEC規(guī)范的零部件均可被上述三家車(chē)廠同時(shí)采用，促進(jìn)了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿，并推動(dòng)了汽車(chē)零件通用性的實(shí)施，為汽車(chē)零部件市場(chǎng)的快速成長(zhǎng)打下了基礎(chǔ)。主要的汽車(chē)電子成員有：Autoliv, Continental, Delphi, Johnson Controls和Visteon。

AEC-Q100與AEC-Q200認(rèn)證簡(jiǎn)介

AEC-Q100是由美國(guó)汽車(chē)電子協(xié)會(huì)AEC所定制的規(guī)范，主要是針對(duì)車(chē)載應(yīng)用的集成電路產(chǎn)品所設(shè)計(jì)出的一套應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。此規(guī)范對(duì)于提升產(chǎn)品信賴(lài)性品質(zhì)保證而相當(dāng)重要。AEC-Q100是預(yù)防可能發(fā)生各種狀態(tài)或潛在的故障狀態(tài)，對(duì)每一個(gè)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠性確認(rèn)，特別對(duì)產(chǎn)品功能與性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范測(cè)試。

AEC-Q200：stress test qualification for passive components - 被動(dòng)元件汽車(chē)級(jí)品質(zhì)認(rèn)證。汽車(chē)電子的過(guò)電壓保護(hù)，存在更為嚴(yán)苛的電路條件，因此一般要求制造商通過(guò)ISO/TS16949的質(zhì)量體系認(rèn)證，相關(guān)的分立器件要求通過(guò)AEC-Q101認(rèn)證，被動(dòng)元件要求通過(guò)AEC-Q200認(rèn)證，是非常嚴(yán)苛的認(rèn)證規(guī)范。

AEC-Q100與AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試

對(duì)需要達(dá)標(biāo)AEC-Q100和AEC-Q200的元件，都要對(duì)元件的功能和性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范測(cè)試。

針對(duì)AEC-Q100進(jìn)行的測(cè)試，大致如下：

1）AEC-Q100-001邦線(xiàn)切應(yīng)力測(cè)試；

2）AEC-Q100-002人體模式靜電放電測(cè)試；

3）AEC-Q100-003機(jī)械模式靜電放電測(cè)試；

4）AEC-Q100-004積體電路閂鎖效應(yīng)測(cè)試；

5）AEC-Q100-005可寫(xiě)可擦除的永久性記憶的耐久性、資料保持及工作壽命的測(cè)試；

6）AEC-Q100-006熱電效應(yīng)引起的寄生閘極漏電流測(cè)試；

7）AEC-Q100-007故障仿真和測(cè)試等級(jí)；

8）AEC-Q100-008早期壽命失效率（ELFR）；

9）AEC-Q100-009電分配評(píng)估；

10）AEC-Q100-010錫球剪切測(cè)試；

11）AEC-Q100-011帶電器件模式的靜電放電測(cè)試；

12）AEC-Q100-012，12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述。

在AEC-Q100文件中，定義出以下幾類(lèi)不同人物的測(cè)試群組：

測(cè)試組A：加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試（針對(duì)芯片產(chǎn)品，Accelerated Environment Stress Tests）；

測(cè)試組B：壽命加速模擬測(cè)試（針對(duì)芯片產(chǎn)品/IP/工藝庫(kù)，Accelerated Lifetime Simulation Tests）；

測(cè)試組C：封裝完整性測(cè)試（針對(duì)芯片產(chǎn)品，Package Assembly Intergrity Tests)；

測(cè)試組D：工藝可靠性測(cè)試（針對(duì)Foundary廠，Die Fabrication Reliability Tests）；

測(cè)試組E：電氣可靠性測(cè)試（針對(duì)芯片產(chǎn)品/I0庫(kù)，Electrical Verification Tests）；

測(cè)試組F：缺陷篩選測(cè)試（針對(duì)芯片產(chǎn)品，Defect Screening Tests）；

測(cè)試組G：封裝過(guò)程后的封裝完整性測(cè)試（針對(duì)芯片產(chǎn)品，Cavity Package Integrity）。

每一個(gè)測(cè)試組會(huì)再細(xì)化定義出幾項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目，并說(shuō)明這些測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試?yán)碚搮⒖寄姆N半導(dǎo)體業(yè)界所使用的認(rèn)證規(guī)范（如，JEDEC/ MIL-STD883/SAE或AEC-Q100本身所定義并且于附件里所定義的規(guī)則）；每一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目也同時(shí)會(huì)定義測(cè)試樣品單一批次數(shù)量、測(cè)試批次量以及判斷合格標(biāo)準(zhǔn)。若有額外的規(guī)范也會(huì)定義再每一項(xiàng)測(cè)試規(guī)范當(dāng)中。

針對(duì)AEC-Q200進(jìn)行的測(cè)試，舉例：

1）AEC-Q200，無(wú)源器件應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)；

2）AEC-Q200-001阻燃測(cè)試；

3）AEC-Q100-002人體模式靜電放電測(cè)試；

4）AEC-Q100-003橫梁負(fù)載、斷裂強(qiáng)度；

5）AEC-Q100-004自恢復(fù)保險(xiǎn)絲測(cè)量程序；

6）AEC-Q100-005板彎曲度測(cè)試；

7）AEC-Q100-006表面貼裝后的剪切強(qiáng)度測(cè)試；

8）AEC-Q100-007電涌測(cè)試；

AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的零部件主要包含：

石英振蕩器：應(yīng)用范圍［胎壓監(jiān)測(cè)系統(tǒng)（TPMS）、導(dǎo)航、防死鎖剎車(chē)系統(tǒng)（ABS）、安全氣囊和接近傳感器車(chē)載多媒體，車(chē)用娛樂(lè)系統(tǒng)、備份攝影鏡頭］

車(chē)用厚膜芯片電阻：應(yīng)用范圍［汽車(chē)?yán)渑到y(tǒng)、空氣調(diào)節(jié)、信息娛樂(lè)系統(tǒng)、自動(dòng)導(dǎo)航、照明、車(chē)門(mén)及車(chē)窗遙控裝置］

車(chē)用夾層金屬氧化物壓敏電阻：應(yīng)用范圍［電機(jī)組件的浪涌保護(hù)、組件的浪涌吸收、半導(dǎo)體過(guò)壓保護(hù)］

耐低高溫表面貼裝固態(tài)模壓片式鉭電容器：應(yīng)用范圍［燃油質(zhì)量傳感器、變速器、節(jié)流閥、傳動(dòng)控制系統(tǒng)］

電阻：SMD電阻、薄膜電阻、熱敏電阻、壓敏電阻、車(chē)用抗硫化電阻、車(chē)用精密薄膜芯片電阻數(shù)組、可變電阻

電容：SMD電容、陶瓷電容、鋁電解電容、薄膜電容、可變電容

電感：加固電感、電感器

其他：LED薄膜氧化鋁陶瓷散熱基板、超音波組件、過(guò)電流保護(hù)SMD、過(guò)溫保護(hù)SMD、陶瓷共鳴器、車(chē)用PolyDiode 半導(dǎo)體陶瓷電子保護(hù)組件、網(wǎng)絡(luò)芯片、變壓器、網(wǎng)絡(luò)組件、EMI干擾抑制器、EMI干擾過(guò)濾器、自恢復(fù)保險(xiǎn)絲。

粵科實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q100/101/102/103/104/200標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力，可提供車(chē)規(guī)級(jí)集成電路、分立半導(dǎo)體器件、光電半導(dǎo)體器件、傳感器、被動(dòng)元件等汽車(chē)電子元件AEC-Q檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)。我們可依據(jù)產(chǎn)品使用條件和質(zhì)量指標(biāo)，定義符合汽車(chē)電子質(zhì)量要求的測(cè)試計(jì)劃，助力客戶(hù)快速進(jìn)入汽車(chē)電子市場(chǎng)。

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