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江蘇粵科檢測(cè)是專業(yè)第三方AEC-Q102認(rèn)證機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)測(cè)試資質(zhì)和測(cè)試能力,致力于為L(zhǎng)ED上中下游產(chǎn)品提供創(chuàng)新的AEC-Q102認(rèn)證解決方案,并通過(guò)AEC-Q102規(guī)范協(xié)助LED廠商找出設(shè)計(jì)不良導(dǎo)致失效的原因。我們提供專業(yè)的磊晶、元件、模塊以及LED燈具完整的分析服務(wù),幫助LED廠商快速找到失效問(wèn)題點(diǎn)并提供解決方案。
LED、激光組件、激光元件、光電二極管、光電晶體管、發(fā)光二極管、光導(dǎo)管、光電池、光電三極管、熱敏電阻、溫差發(fā)電器、溫差電致冷器、光敏電阻、紅外光源、光電耦合器、發(fā)光數(shù)字管、使用光電功能和其他組件(例如帶集成電路的 LED、帶光電二極管的激光組件、光耦)的多芯片模塊。
序號(hào) | 測(cè)試項(xiàng)目 | 縮寫(xiě) | 檢測(cè)方法 |
A 加速環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn) | |||
A1 | 預(yù)處理 | PC | JEDEC JESD22-A113 |
A2a | 高溫濕工作壽命1 | WHTOL1 | JEDEC JESD22-A101 |
A2b | 高溫濕工作壽命2 | WHTOL2 | JEDEC JESD22-A101 |
A2c | 高濕度高溫反向偏壓 | H3TRB | JEDEC JESD22-A101 |
A3a | 功率溫度循環(huán) | PTC | JEDEC JESD22-A105 |
A3b | 間歇使用壽命 | IOL | MIL-STD-750-1 Method 1037 |
A4 | 溫度循環(huán) | TC | JEDEC JESD22-A104 |
B 組 加速壽命應(yīng)力試驗(yàn) | |||
B1a | 高溫濕工作壽命1 | HTOL1 | JEDEC JESD22-A108 |
B1b | 高溫濕工作壽命2 | HTOL2 | JEDEC JESD22-A108 |
B1c | 高溫反向偏壓 | HTRB | JEDEC JESD22-A108 |
B2 | 低溫使用壽命 | LTOL | JEDEC JESD22-A108 |
B3 | 脈沖壽命 | PLT | JEDEC JESD22-A108 |
C 組 封裝組合完整性測(cè)試 | |||
C1 | 破壞性物理分析 | DPA | Appendix 6 |
C2 | 物理尺寸 | PD | JEDEC JESD22-B100 |
C3 | 綁線強(qiáng)度 | WBP | MIL-STD-750-2Method 2037 |
C4 | 綁線剪切 | WBS | JESD22-B116 |
C5 | 芯片剪切 | DS | MIL-STD-750-2Method 2017 |
C6 | 端子強(qiáng)度 | TS | MIL-STD-750-2Method 2036 |
C7 | 凝露 | DEW | AEC-Q102-001 |
C8 | 耐焊接熱 | RSG(-wave) | Lead containing devices per JESD22-B106Lead(Pb)-free devices per AEC-Q005 |
C9 | 熱阻 | TR | JEDEC JESD51-50 JESD51-51 JESD51-52 |
C10 | 可焊性 | SD | JEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC 60068-2-20(Through hole) |
C11 | 晶須生長(zhǎng) | WG | AEC-Q005 |
C12 | 硫化氫 | H2S | IEC 60068-2-43 |
C13 | 混合氣流測(cè)試 | FMG | IEC 60068-2-60 Test method 4 |
C14 | 板彎曲 | BF | AEC-Q102-002 |
E 組 光電驗(yàn)證試驗(yàn) | |||
E0 | 目檢 | EV | JEDEC JESD22-B101 |
E1 | 應(yīng)力前后電氣和光度試驗(yàn) | TEST | Section 2.3.7& User specification or supplier's standard specification |
E2 | 參數(shù)驗(yàn)證 | PV | individual AEC user specification |
E3 | 靜電放電特性 HBM | HBM | ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 |
E4 | 靜電放電特性 CDM | CDM | AEC-Q101-005 |
G 組 空腔封裝完整性測(cè)試 | |||
G1 | 恒定加速度 | CA | MIL-STD-750-2Method 2006 |
G2 | 變頻振動(dòng) | VVF | JEDEC JESD22-B103 Condition 1 |
G3 | 機(jī)械沖擊 | MS | JEDEC JESD22-B110 |
G4 | 密封性 | HER | JEDEC JESD22-A109 |
AEC-Q102驗(yàn)證通常需要考慮與第三方機(jī)構(gòu)前期的溝通洽談,要考慮試驗(yàn)所需硬件的定制周期,還需要考慮第三方機(jī)構(gòu)的試驗(yàn)排期及實(shí)際所需測(cè)試時(shí)間,建議AEC-Q102驗(yàn)證的周期預(yù)留160~180days完成驗(yàn)證。
1. 品牌信賴:成立于2007年,中國(guó)CNAS、CMA認(rèn)可檢驗(yàn)的高新企業(yè),國(guó)家級(jí)中小企業(yè)公共技術(shù)服務(wù)平臺(tái);
2. 多方認(rèn)證:多個(gè)國(guó)內(nèi)外機(jī)構(gòu)認(rèn)可,資質(zhì)齊全,檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力;
3. 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):實(shí)驗(yàn)室按照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025規(guī)范建立運(yùn)行,符合10多個(gè)國(guó)際國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范;
4. 服務(wù)保障:高效一站式檢測(cè)認(rèn)證服務(wù),實(shí)驗(yàn)方案齊全,眾多國(guó)內(nèi)外知名企業(yè)信賴。
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