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文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時間:2023-04-14 瀏覽量:
GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T2423.2高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Bb和試驗Bd與早期版本無實質(zhì)上的差異。本高溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。
GB/T2423.2高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力,在這種情況下,應采用GB/T 2423.22。
GB/T2423.2高溫試驗方法細分為以下幾種:非散熱試驗樣品高溫試驗:試驗Bb,溫度漸變;散熱試驗樣品高溫試驗:試驗Bd,溫度漸變;試驗Be,溫度漸變,試驗樣品在整個試驗過程通電。
1000、800、630、500、400、315、250、200、175、155、125、100、85、70、65、60、55、50、45、40、35、30
2h、16h、72h、96h、168h、240h、336h、1000h
對樣品進行目視檢查以及相關(guān)規(guī)范要求的性能檢測
粵科檢測是專業(yè)第三方高溫試驗測試機構(gòu),實驗室具備GJB150.3A、GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2標準CNAS檢測資質(zhì)和檢測能力,可提供電工電子產(chǎn)品第三方高溫試驗測試服務。
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