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文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時間:2023-05-18 瀏覽量:
汽車作為人們主要的出行方式之一,它的安全性和可靠性決定了汽車能否長久正常的運行,能否有效地保護(hù)駕駛者和乘客的生命安全,為人們的生產(chǎn)和生活提供便利。
所以汽車企業(yè)在采購器件的時候,通常會要求供應(yīng)商使用車規(guī)級元器件,來保證整車都有足夠的可靠性和安全性。
而為消除制造商和采購商之間的誤解,促進(jìn)產(chǎn)品的可交換性和改機(jī),協(xié)助采購商盡快宣傳和獲得適當(dāng)?shù)漠a(chǎn)品。
汽車電子委員會(Automotive Electronics Council,簡稱AEC)建立了一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn),也就是AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)。
在AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)中,分為多個標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了不同的部件的可靠性和安全性要求,比如AEC-Q100規(guī)定了集成電路部分,AEC-Q101則是分立半導(dǎo)體元器件,AEC-Q103是汽車傳感器,AEC-Q104是多芯片模塊,AEC-Q200無源器件等。
而AEC-Q102則是針對汽車電子所有內(nèi)外使用的分立光電半導(dǎo)體元器件的測試標(biāo)準(zhǔn),同時也是目前最新針對車用LED通用的國際標(biāo)準(zhǔn)。
標(biāo)準(zhǔn)中的試驗每項都是針車用LED所可能遭遇的環(huán)境來設(shè)計,以保護(hù)行車時的安全性,對光電器件的可靠性提出了嚴(yán)格的測試要求,大大提升了光電器件的使用性能。
序號 | 測試項目 | 縮寫 | 檢測方法 |
A 加速環(huán)境應(yīng)力試驗 | |||
A1 | 預(yù)處理 | PC | JEDEC JESD22-A113 |
A2a | 高溫濕工作壽命1 | WHTOL1 | JEDEC JESD22-A101 |
A2b | 高溫濕工作壽命2 | WHTOL2 | JEDEC JESD22-A101 |
A2c | 高濕度高溫反向偏壓 | H3TRB | JEDEC JESD22-A101 |
A3a | 功率溫度循環(huán) | PTC | JEDEC JESD22-A105 |
A3b | 間歇使用壽命 | IOL | MIL-STD-750-1 Method 1037 |
A4 | 溫度循環(huán) | TC | JEDEC JESD22-A104 |
B 組 加速壽命應(yīng)力試驗 | |||
B1a | 高溫濕工作壽命1 | HTOL1 | JEDEC JESD22-A108 |
B1b | 高溫濕工作壽命2 | HTOL2 | JEDEC JESD22-A108 |
B1c | 高溫反向偏壓 | HTRB | JEDEC JESD22-A108 |
B2 | 低溫使用壽命 | LTOL | JEDEC JESD22-A108 |
B3 | 脈沖壽命 | PLT | JEDEC JESD22-A108 |
C 組 封裝組合完整性測試 | |||
C1 | 破壞性物理分析 | DPA | Appendix 6 |
C2 | 物理尺寸 | PD | JEDEC JESD22-B100 |
C3 | 綁線強(qiáng)度 | WBP | MIL-STD-750-2Method 2037 |
C4 | 綁線剪切 | WBS | JESD22-B116 |
C5 | 芯片剪切 | DS | MIL-STD-750-2Method 2017 |
C6 | 端子強(qiáng)度 | TS | MIL-STD-750-2Method 2036 |
C7 | 凝露 | DEW | AEC-Q102-001 |
C8 | 耐焊接熱 | RSG(-wave) | Lead containing devices per JESD22-B106Lead(Pb)-free devices per AEC-Q005 |
C9 | 熱阻 | TR | JEDEC JESD51-50 JESD51-51 JESD51-52 |
C10 | 可焊性 | SD | JEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC 60068-2-20(Through hole) |
C11 | 晶須生長 | WG | AEC-Q005 |
C12 | 硫化氫 | H2S | IEC 60068-2-43 |
C13 | 混合氣流測試 | FMG | IEC 60068-2-60 Test method 4 |
C14 | 板彎曲 | BF | AEC-Q102-002 |
E 組 光電驗證試驗 | |||
E0 | 目檢 | EV | JEDEC JESD22-B101 |
E1 | 應(yīng)力前后電氣和光度試驗 | TEST | Section 2.3.7& User specification or supplier's standard specification |
E2 | 參數(shù)驗證 | PV | individual AEC user specification |
E3 | 靜電放電特性 HBM | HBM | ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 |
E4 | 靜電放電特性 CDM | CDM | AEC-Q101-005 |
G 組 空腔封裝完整性測試 | |||
G1 | 恒定加速度 | CA | MIL-STD-750-2Method 2006 |
G2 | 變頻振動 | VVF | JEDEC JESD22-B103 Condition 1 |
G3 | 機(jī)械沖擊 | MS | JEDEC JESD22-B110 |
G4 | 密封性 | HER | JEDEC JESD22-A109 |
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