AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)包含了分立半導(dǎo)體元件（如晶體管，二極管等）最低應(yīng)力試驗(yàn)要求的定義和試驗(yàn)條件，試驗(yàn)項(xiàng)目主要參考了軍用級(jí)，工業(yè)級(jí)和車用級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)，其中Group A加速環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)的間隙工作壽命（IOL）就參考了軍用級(jí)標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-750半導(dǎo)半導(dǎo)體器件的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境測(cè)試方法Method 1037進(jìn)行。
試驗(yàn)?zāi)康?/h3>
確定半導(dǎo)體器件在特定條件下是否符合規(guī)定的周期數(shù)，在器件反復(fù)開啟和關(guān)閉的條件下，它加速了器件的芯片和安裝面之間的所有鍵合和接口的應(yīng)力，因此較適合用于管殼安裝類型（例如螺柱、法蘭和圓盤）器件。
試驗(yàn)條件
在初始預(yù)熱周期后處于穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)，一個(gè)周期應(yīng)包括一個(gè)“開啟”階段，即當(dāng)器件突然而非逐漸接通電源直到?Tj最低達(dá)到100℃（不超過器件的最大額定結(jié)溫），緊接著為一個(gè)“關(guān)閉”階段，即當(dāng)電源突然斷開時(shí)，通過冷卻管殼達(dá)到變化的?Tj溫度，輔助（強(qiáng)制）冷卻只允許在關(guān)閉階段進(jìn)行。如?Tj不能達(dá)到100℃，可進(jìn)行功率溫度循環(huán)（PTC）試驗(yàn)代替。
所有器件都應(yīng)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)要求的時(shí)間或循環(huán)次數(shù)，?Tj ≥ 100°C時(shí)進(jìn)行1000小時(shí)或15000個(gè)循環(huán)，?Tj ≥ 125°C時(shí)進(jìn)行500小時(shí)或7500個(gè)循環(huán)，最終測(cè)試時(shí)間或循環(huán)數(shù)依據(jù)下列公式進(jìn)行計(jì)算：
| 封裝類型 | 所需的循環(huán)數(shù) △Tj ≥ 100°C | 所需的循環(huán)數(shù) △Tj ≥ 125°C | 每次循環(huán)的時(shí)間 |
| 全部 | 60000/(x+y) 15000循環(huán) | 30000/(x+y) 7500循環(huán) | 最快能力（最少2分鐘開/關(guān)） x分鐘開+y分鐘關(guān) |
示例1：一個(gè)能夠開2分鐘/關(guān)4分鐘的封裝，在△Tj≥100℃時(shí)需要10000次循環(huán)[60000/(2+4)]，或在△Tj≥125℃時(shí)需要5000次循環(huán)。
示例2：一個(gè)能夠開1分鐘/關(guān)1分鐘的封裝，在△Tj≥100℃時(shí)需要15000次循環(huán)，或在△Tj≥125℃時(shí)需要7500次循環(huán)。
X = 器件從環(huán)境溫度達(dá)到規(guī)定的結(jié)溫△Tj 所需的最短時(shí)間。
Y = 器件從規(guī)定的結(jié)溫△Tj 冷卻到環(huán)境溫度所需的最短時(shí)間。
測(cè)試板上的儀器、零件安裝和散熱方法將影響每個(gè)封裝的x和y。
電性能參數(shù)選擇
間隙工作壽命（IOL）試驗(yàn)前后需檢測(cè)電性能參數(shù)，以下是最小檢測(cè)的參數(shù)要求，所有器件性能參數(shù)必須符合用戶零件規(guī)范的要求。
晶體管
| 雙極 | FET | IGBT |
| BVCEX | BVDSS | BVCES |
| ICEX | IDSS | ICES |
| IEBX或ICBX | IGSS | IGES |
| VCE(SAT) | RDS(ON) | VCE(SAT) |
| hFE | Gfs（如指明） | hFE |
| VGs(th)或VGs(OFF) | VGE(th) |
二極管
| VF, IR, VBR（二極管） |
| VZ或VCLAMP（齊納管） |
| RF（PIN二極管, 如適用） |
變?nèi)莨?/p>
失效判定
a. 試驗(yàn)后電性能參數(shù)不能保持在初始讀數(shù)的±20%以內(nèi)為失效
b. 對(duì)于RDS（ON）最大≤2.5 mOhm的器件，RDS（ON）的變化允許值為≤0.5 mOhm。
c. 允許的泄漏電流不超過測(cè)試前初始值的5倍，對(duì)MOSFET而言，對(duì)于0h測(cè)試值<10nA(IGSS和IDSS)，測(cè)試后為50nA。
d. 器件外觀不可以出現(xiàn)任何物理損壞。
分立器件AEC-Q101認(rèn)證機(jī)構(gòu)
江蘇粵科檢測(cè)是專業(yè)第三方AEC-Q101認(rèn)證機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)及CNCA發(fā)證資質(zhì)，可提供汽車半導(dǎo)體分立器件AEC-Q101認(rèn)證、AECQ101測(cè)試服務(wù)。我們可協(xié)助汽車分立半導(dǎo)體企業(yè)制定符合AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)證步驟和實(shí)驗(yàn)方法，幫助廠商進(jìn)入車廠供應(yīng)鏈，縮短與采購(gòu)商的溝通時(shí)間，推動(dòng)產(chǎn)品品質(zhì)的提高和可交換性。
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