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文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時(shí)間:2023-08-14 瀏覽量:
江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方電子元器件檢測機(jī)構(gòu),現(xiàn)已建成JG電子、汽車電子、集成電路等檢測中心,可提供電子元器件及零部件的安規(guī)認(rèn)證、二次篩選、車規(guī)級(jí)認(rèn)證(AEC-Q100/101/102/103/104/200)、DPA測試、失效分析、可靠性驗(yàn)證等檢測認(rèn)證服務(wù)。接下來為大家介紹元器件可靠性試驗(yàn)方法的國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)。
1、中國國家標(biāo)準(zhǔn) GB
GB/T 15297-1994:微電路模塊機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法
GB/T 4937-1995:半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法
GB/T 2423.44-1997:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
2、中國國家軍用標(biāo)準(zhǔn) GJB
GJB 128A-97:半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法
GJB 360A-96:電子及電氣元件試驗(yàn)方法
GJB 548B-2005:微電子器件試驗(yàn)方法和程序
GJB 1217-91:電連接器試驗(yàn)方法
3、日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
JISC 7022:半導(dǎo)體集成電路的環(huán)境和疲勞試驗(yàn)方法 JISC7030:品體管試驗(yàn)方法
JISC 7031:小信號(hào)半導(dǎo)體二極管試驗(yàn)方法
JISC 7033:整流二極管試驗(yàn)方法
JISC 7021:半導(dǎo)體分立器件的環(huán)境和疲勞試驗(yàn)方法
JISC 5020:電子設(shè)備用元件的耐候性及機(jī)械強(qiáng)度試驗(yàn)方法通則
JISC 5003:電子設(shè)備用元件的失效率試驗(yàn)方法通則
4、日本電子機(jī)械工業(yè)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)
SD-121:半導(dǎo)體分立器件的環(huán)境及疲勞性試驗(yàn)方法
IC-121:集成電路的環(huán)境及疲勞性試驗(yàn)方法
5、國際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn) IEC
IEC60749:半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候環(huán)境試驗(yàn)方法
6、英國標(biāo)準(zhǔn) BS
BS 9300:半導(dǎo)體器件試驗(yàn)方法
BS 9400:集成電路試驗(yàn)方法
7、美國軍用標(biāo)準(zhǔn) MIL
MIL-STD-202E:電子、電氣元件試驗(yàn)方法
MIL-STD-750D:半導(dǎo)體器件試驗(yàn)方法
MIL-STD-883G:微電子器件試驗(yàn)方法和程序
8、美國電子器件工程聯(lián)合會(huì)標(biāo)準(zhǔn) JEDEC
JESD22-A101-B:穩(wěn)態(tài)溫度濕度偏壓壽命試驗(yàn)方法
JESD22-A103C:高溫貯存試驗(yàn)方法 COM
JESD22-A110-B:高加速溫度濕度應(yīng)力試驗(yàn)方法
JESD74:早期失效計(jì)算方法
JESD-020C:非密封表貼器件潮濕敏感度等級(jí)評(píng)價(jià)方法
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