AEC-Q200認證高溫工作壽命試驗要求

AEC-Q200認證的環(huán)境試驗條件，主要是依據(jù)MIL-STD-202與JEDEC22A-104規(guī)范來制定的，不同的零件除了試驗溫度不一樣之外，其施加電源（電壓、電流、負載）要求也會有所不同，高溫工作壽命需要施加偏壓與負載的環(huán)境試驗。

江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q200認證機構(gòu)，實驗室具備AEC-Q200標準CNAS全項檢測資質(zhì)和檢測能力，接下來為大家介紹AEC-Q200認證高溫工作壽命試驗要求。

AEC-Q200認證高溫工作壽命試驗依據(jù)標準

電子及電氣元件試驗方法 MIL-STD-202H:2015 Method 108

AEC-Q200認證高溫工作壽命試驗要求

1. 網(wǎng)絡(luò)低通濾波器、網(wǎng)絡(luò)電阻：85℃/1000h EMI；

2. 干擾抑制器、EMI干擾過濾器：85℃/1000h/施加額定IL；

3. 鉭電容、陶瓷電容：最大額定溫度/1000h/ （2/3）負載/額定電壓 ；

4. 鋁電解電容、電感、變壓器：105℃/1000h ；

5. 薄膜電容：1000h/（85℃/125%額定電壓、105℃&125℃/100%額定電壓） ；

6. 自恢復(fù)保險絲：125℃/1000h；

7. 電阻、熱敏電阻、可變電容：125℃/1000h/額定電壓；

8. 可變電阻：125℃/1000h/額定功率；

9. 變阻器：125℃/1000h/額定電壓85％+ma電流 ；

10. 陶瓷共鳴器：85℃/1000h/額定VDD+1MΩ，并聯(lián)逆變器，在每個晶體腳和地之間有2X的晶體CL電容 ；

11. 石英震蕩器：125℃/1000h/額定VDD+1MΩ，并聯(lián)逆變器，在每個晶體腳和地之間有2X的晶體CL電容 。

車規(guī)被動元件AEC-Q200認證測試要求

1. 每個環(huán)境應(yīng)力測試項目前后都要進行電參數(shù)測試，特別要求除外。

2. 1000小時的長時間老化測試會額外增加250，500，1000小時幾個階段。

3. 一般電參數(shù)測試會是在室溫狀態(tài)（25±5℃）下進行，應(yīng)力測試完成后24±4小時內(nèi)進行。

4. 電參數(shù)測試需在客戶規(guī)格書中宣稱的低溫，室溫，高溫中進行測試。

5. AEC-Q200測試的接受條件和要求參數(shù)均依據(jù)客戶規(guī)格書進行判定，所有測試只接受零失敗。

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