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文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時(shí)間:2023-12-08 瀏覽量:
汽車IGBT模塊對產(chǎn)品性能和質(zhì)量的要求要明顯高于消費(fèi)和工控領(lǐng)域,因此車規(guī)認(rèn)證成為了汽車IGBT模塊市場的最重要壁壘,一般來說,車規(guī)級IGBT需要2年左右的車型導(dǎo)入周期。
汽車IGBT模塊測試標(biāo)準(zhǔn)主要參照AEC-Q101和AQG-324,同時(shí)車企會根據(jù)自己的車型特點(diǎn)提出相應(yīng)的要求,主要測試方法包括:參數(shù)測試、ESD測試、絕緣耐壓、機(jī)械振動(dòng)、機(jī)械沖擊、高溫老化、低溫老化、溫度循環(huán)、溫度沖擊、UHAST(高溫高濕無偏壓)、HTRB(高溫反偏)、HTGB(高溫刪偏)、H3TRB/HAST(高溫高濕反偏)、功率循環(huán)、可焊性。
其中功率循環(huán)和溫度循環(huán)作為代表的耐久測試,要求極為嚴(yán)格,例如功率循環(huán)次數(shù)可能從幾萬次到十萬次不等。主要目的是測試鍵合線、焊接層等機(jī)械連接層的耐久情況。測試時(shí)的失效機(jī)理主要是,芯片、鍵合線、DBC、焊料等的熱膨脹系數(shù)不一致,導(dǎo)致鍵合線脫落、斷裂,芯片焊層分離,以及焊料老化等。
AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)是用于分立半導(dǎo)體器件的,標(biāo)準(zhǔn)全稱:Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors,基于分立半導(dǎo)體應(yīng)力測試認(rèn)證的失效機(jī)理,名字有點(diǎn)長,所以一般就叫“分立半導(dǎo)體的應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)”?,F(xiàn)在的Rev E版本是2021.03.01剛發(fā)布的最新版。
AEC-Q101認(rèn)證包含了分立半導(dǎo)體元件最低應(yīng)力測試要求的定義和參考測試條件,目的是要確定一種器件在應(yīng)用中能夠通過應(yīng)力測試以及被認(rèn)為能夠提供某種級別的品質(zhì)和可靠性。AEC-Q101按Wafer Fab晶圓制造技術(shù),分為以下幾種,主要是MOS、IGBT、二極管、三極管、穩(wěn)壓管、TVS、可控硅等。
江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q101認(rèn)證檢測機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)測試資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力,可提供車用LED分立光電半導(dǎo)體元器件AEC-Q102認(rèn)證檢測服務(wù),同時(shí)提供LED、光電二極管、晶體管、激光元件的環(huán)境試驗(yàn)服務(wù),更有一流的LED材料表征與分析技術(shù)和LED失效分析技術(shù),提供一站式LED行業(yè)解決方案,為LED行業(yè)的乘風(fēng)破浪保駕護(hù)航。
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