文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時間：2024-04-30 瀏覽量:
鋁電解電容器AEC-Q200認證依據(jù)AEC-Q200 REV E:2023標準Table 3要求進行測試，江蘇粵科檢測具備AEC-Q200標準CNAS全項檢測資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，接下來為大家介紹鋁電解電容器AEC-Q200認證測試要求。
| NO. 序號 | Stress 測試內(nèi)容 | Reference 測試方法 | Minimum Sample Size Per Lot Depending on Component Size (cm3) | Number of lots 批次 | Accept on Number failed 允許不合格數(shù) | ||||
| 樣品體積 <10cm3 Sample Size Per 測試樣品數(shù)量 | ≧10cm3 ≦330cm3 | >330cm3 | Individual 單個型號 | Family 系列 | |||||
| 1 | Pre- and Post-Stress Electrical Test 應力測試前后電氣測試 | User Specification. 用戶規(guī)范 | 除非另有規(guī)定，所有認證器件 All qualification components unless otherwise specified | 0 Fails | |||||
| 2 | High Temperature Exposure (Storage) 高溫存儲 | MIL-STD-202 Method 108 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 3 | Temperature Cycling 溫度循環(huán) | JESD22-A104 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 4 | Humidity Bias 高溫高濕 | MIL-STD-202 Method 103 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 5 | High Temperature Operating Life 高溫工作壽命 | MIL-STD-202 Method 108 | 77 | 26 | 10 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 6 | External Visual 外觀檢查 | MIL-STD-883 Method 2009 | 所有認證器件 All qualification parts submitted for testing | 0 Fails | |||||
| 7 | Physical Dimension 尺寸檢查 | JESD22-B100 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 8 | Terminal Strength（THT） 端子強度 | MIL-STD-202 Method 211 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 9 | Resistance to Solvents 耐溶劑測試 | MIL-STD-202 Method 215 | 5 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 10 | Mechanical Shock 機械沖擊 | MIL-STD-202 Method 213 | 30 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 11 | Vibration 振動 | MIL-STD-202 Method 204 | 30 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 12 | Resistance to Soldering Heat 耐焊接熱 | MIL-STD-202 Method 210 | 30 | 4 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 13 | Solderability 可焊性 | J-STD-002 | 15 each condition | 6 | 3 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 14 | Electrical Characterization 電氣特性 | User Specification. | 30 | 10 | 4 | 3 | 3 | 0 Fails | |
| 15 | Flammability 可燃性 | UL 94 or IEC 60695-11-5 | 按照參考標準 Present certificate of compliance | 0 Fails | |||||
| 16 | Board Flex (SMD) 板彎曲（貼片） | AEC-Q200-005 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 17 | Terminal Strength (SMD) 引出端強度（貼片） | AEC-Q200-006 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
| 18 | Surge Voltage 浪涌電壓 | JIS-C-5101-1 | 30 | 10 | 4 | 1 | 3 | 0 Fails | |
1. 每個環(huán)境應力測試項目前后都要進行電參數(shù)測試，特別要求除外。
2. 1000小時的長時間老化測試會額外增加250，500，1000小時幾個階段。
3. 一般電參數(shù)測試會是在室溫狀態(tài)（25±5℃）下進行，應力測試完成后24±4小時內(nèi)進行。
4. 電參數(shù)測試需在客戶規(guī)格書中宣稱的低溫，室溫，高溫中進行測試。
5. AEC-Q測試的接受條件和要求參數(shù)均依據(jù)客戶規(guī)格書進行判定，所有測試只接受零失敗。
1. 前期咨詢：提供需委托檢測項目、測試條件或測試標準；
2. 評估報價：根據(jù)檢測要求、樣品規(guī)格及參數(shù)評估報價；
3. 填寫委托書：向我司發(fā)起檢測申請，填寫委托書（會有專人指導填寫）；
4. 付款及提供樣品資料：按照協(xié)定報價支付費用，按要求提供足夠數(shù)量的樣品及產(chǎn)品資料；
5. 安排檢測：按委托要求對產(chǎn)品進行檢測；
6. 出具報告：依據(jù)檢測數(shù)據(jù)出具報告，將報告、發(fā)票及樣品回寄客戶。
如果您對我司的產(chǎn)品或服務有任何意見或者建議，您可以通過這個渠道給予我們反饋。您的留言我們會盡快回復！
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