三極管在汽車電子系統(tǒng)中扮演著重要角色，其可靠性和性能直接影響整車電子系統(tǒng)的穩(wěn)定性和安全性。AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)是專門針對汽車環(huán)境下使用的分立半導(dǎo)體元器件的可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)。本文將詳細(xì)介紹三極管按照AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的各種測試項(xiàng)目。

三極管AEC-Q101認(rèn)證測試項(xiàng)目

A類測試：應(yīng)力預(yù)處理和加速壽命測試

A1: 預(yù)處理 (Pre-condition, PC)  

測試方法：J-STD-020E, JESD-A113  

樣品數(shù)/批：77*4  

批數(shù)：3  

附加條件：對A2、A3、A4、A5進(jìn)行預(yù)處理。

A2: 高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 (Highly Accelerated Stress Test, HAST)  

測試方法：JESD22 A-110  

樣品數(shù)/批：77  

批數(shù)：3  

附加條件：96H, Ta=130℃, RH=85%, V=V@max。

A2 alt: 高溫濕度反向偏置測試 (High Humidity High Temp. Reverse Bias, H3TRB)  

測試方法：JESD22 A-101  

樣品數(shù)/批：77  

批數(shù)：3  

附加條件：96H, 1000H, Ta=85℃/85%RH, V=80%V@max。

A3: 無偏置高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 (Unbiased Highly Accelerated Stress Test, UHAST)  

測試方法：JESD22 A-118  

樣品數(shù)/批：77  

批數(shù)：3  

附加條件：96H, 110℃, 85%RH, 15psi。

A3 alt: 高壓蒸煮測試 (Autoclave, AC)  

測試方法：JESD22 A-102  

樣品數(shù)/批：77  

批數(shù)：3  

附加條件：96H, 121℃, 100%RH, 15psi。

A4: 溫度循環(huán)測試 (Temperature Cycling, TC)  

測試方法：JESD22 A-104, Appendix 6  

樣品數(shù)/批：77  

批數(shù)：3  

附加條件：1000循環(huán), -55℃到150℃。

A4a alt: 層剝離測試 (TC Delamination Test, TCDT)  

測試方法：JESD22 A-104, Appendix 6, J-STD-035  

樣品數(shù)/批：77  

批數(shù)：3  

附加條件：如果C-SAM顯示無分層，則不需要封裝體剝離分析。

A5: 間歇工作壽命測試 (Intermittent Operational Life, IOL)  

測試方法：MIL-STD-750 Method 1037  

樣品數(shù)/批：77  

批數(shù)：3  

附加條件：On/off條件下進(jìn)行測試。

A5 alt: 功率溫度循環(huán)測試 (Power Temperature Cycling, PTC)  

測試方法：JESD22-A105  

樣品數(shù)/批：77  

批數(shù)：3  

附加條件：在-40到105℃間循環(huán)。

B類測試：高溫反向偏置測試

B1: 高溫反向偏置測試 (High Temperature Reverse Bias, HTRB)  

測試方法：MIL-STD-750-1 M1039 condition A  

樣品數(shù)/批：77  

批數(shù)：3  

附加條件：1000H, Ta=150℃, V=80%V@max。

C類測試：物理和機(jī)械特性測試

C1: 破壞性物理分析 (Destructive Physical Analysis, DPA)  

測試方法：AEC-Q101-004 Section 4  

樣品數(shù)/批：2  

批數(shù)：1  

附加條件：通過H3TRB或HAST進(jìn)行樣品準(zhǔn)備。

C2: 尺寸檢查 (Physical Dimension, PD)  

測試方法：JESD22 B-100  

樣品數(shù)/批：30  

批數(shù)：1  

附加條件：確保符合標(biāo)準(zhǔn)。

C3: 鍵合線強(qiáng)度測試 (Wire Bond Strength, WBS)  

測試方法：MIL-STD-750 Method 2037  

樣品數(shù)/批：10  

批數(shù)：1  

附加條件：評估鍵合線的可靠性。

C4: 鍵合剪切測試 (Bond Shear, BS)  

測試方法：AEC-Q101-003  

樣品數(shù)/批：10  

批數(shù)：1  

附加條件：評估鍵合點(diǎn)的強(qiáng)度。

C5: 芯片剪切測試 (Die Shear, DS)  

測試方法：MIL-STD-750 Method 2017  

樣品數(shù)/批：5  

批數(shù)：1  

附加條件：評估芯片與基板的粘附強(qiáng)度。

C8: 耐焊接熱測試 (Resistance to Solder Heat, RSH)  

測試方法：JESD22 A-111 (SMD) / B-106 (PTH)  

樣品數(shù)/批：30  

批數(shù)：1  

附加條件：評估元器件在焊接過程中的耐熱性。

C9: 熱阻測試 (Thermal Resistance, TR)  

測試方法：JESD24-3, 24-4, 26-6  

樣品數(shù)/批：10  

批數(shù)：1  

附加條件：測量熱阻。

C10: 可焊性測試 (Solderability, SD)  

測試方法：J-STD-002, JESD22B102  

樣品數(shù)/批：15  

批數(shù)：1  

附加條件：評估元器件的焊接性能。

C11: 須晶生長評估 (Whisker Growth Evaluation, WG)  

測試方法：AEC-Q005  

樣品數(shù)/批：3  

批數(shù)：1  

附加條件：在規(guī)定條件下評估須晶生長情況。

E類測試：電氣和熱性能測試

E0: 外觀檢查 (External Visual, EV)  

測試方法：JESD22-B101  

樣品數(shù)/批：所有測試前后均進(jìn)行測試。  

批數(shù)：1  

附加條件：外觀檢查。

E1: 預(yù)應(yīng)力和后應(yīng)力電氣測試 (Pre- and Post-Stress Electrical and Photometric Test, TEST)  

測試方法：用戶規(guī)范或標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。  

樣品數(shù)/批：所有應(yīng)力測試前后。  

批數(shù)：1  

附加條件：測試電氣性能。

E2: 參數(shù)驗(yàn)證 (Parametric Verification, PV)  

測試方法：用戶規(guī)范。  

樣品數(shù)/批：25  

批數(shù)：3  

附加條件：驗(yàn)證參數(shù)。

E3: ESD電氣特性測試 (Characterization in ESD, ESDH)  

測試方法：AEC-Q101-001  

樣品數(shù)/批：30  

批數(shù)：1  

附加條件：進(jìn)行ESD測試。

E4: ESD電氣特性測試 (Characterization in ESD, ESDC)  

測試方法：AEC-Q101-005  

樣品數(shù)/批：30  

批數(shù)：1  

附加條件：進(jìn)行ESD測試。

E5: 非鉗位感應(yīng)開關(guān)測試 (Unclamped Inductive Switching, UIS)  

測試方法：AEC-Q101-004 Section 2  

樣品數(shù)/批：30  

批數(shù)：1  

附加條件：進(jìn)行非鉗位感應(yīng)開關(guān)測試。

通過上述一系列嚴(yán)格的測試，可以確保三極管在極端環(huán)境下仍能保持其性能和可靠性?；浛茖?shí)驗(yàn)室作為專業(yè)第三方AEC-Q101認(rèn)證測試機(jī)構(gòu)，具備執(zhí)行AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)下全部測試項(xiàng)目的能力，能夠?yàn)榭蛻籼峁└哔|(zhì)量的認(rèn)證服務(wù)，確保三極管在汽車應(yīng)用中的可靠性和安全性。

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