電子元器件老煉試驗是電子工程中常用的可靠性測試方法，其主要目的是剔除早期失效的電子元器件產(chǎn)品，提高系統(tǒng)整體的可靠性。通過在較長時間內(nèi)對元器件施加電應(yīng)力與熱應(yīng)力，老煉試驗加速了元器件內(nèi)部潛在缺陷的暴露，從而確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量和穩(wěn)定性。

老煉試驗的特點(diǎn)

老煉試驗是一種加速早期失效機(jī)理發(fā)生的非破壞性試驗。它主要有以下幾個特點(diǎn)：

1. 非破壞性測試：老煉試驗通過激發(fā)電路中的潛在缺陷，而不引發(fā)新的失效機(jī)制或改變失效分布。

2. 100%覆蓋測試：原則上，老煉試驗應(yīng)對電路整體進(jìn)行100%的測試，確保每個元器件都經(jīng)過嚴(yán)格篩選。

3. 改善使用可靠性：雖然老煉試驗不能改變電路的固有可靠性，但它能提高電路的使用可靠性，使產(chǎn)品更穩(wěn)定地進(jìn)入使用周期的中期階段。

4. 應(yīng)力水平高于使用環(huán)境：為了縮短試驗時間，老煉試驗中的應(yīng)力水平通常高于元器件實際使用時的應(yīng)力水平。

5. 適應(yīng)性選擇：試驗條件根據(jù)電路的可靠性要求和失效機(jī)理特性進(jìn)行選擇，以實現(xiàn)最佳測試效果。

老煉試驗的階段

老煉試驗通常包括三個階段：老煉前測試、老煉試驗、老煉后測試。

1. 老煉前測試：進(jìn)行基本的電參數(shù)和功能測試，以剔除存在明顯質(zhì)量缺陷的器件，避免浪費(fèi)測試資源。

2. 老煉試驗：在老煉板上施加電應(yīng)力和熱應(yīng)力，將電路置于高溫環(huán)境中，以加速早期失效的發(fā)生。

3. 老煉后測試：對經(jīng)過老煉的電路進(jìn)行全面測試，確保電路的電參數(shù)穩(wěn)定性和功能性達(dá)到設(shè)計要求。測試包括常溫、低溫和高溫環(huán)境下的直流和交流參數(shù)測試。

老煉試驗方法

老煉試驗分為靜態(tài)老煉、動態(tài)老煉和老煉中測試三種方法。

- 靜態(tài)老煉：只給電路提供電源電壓，不施加信號向量。此時，電路內(nèi)部晶體管基本處于反偏狀態(tài)，主要用于誘發(fā)與雜質(zhì)污染相關(guān)的失效機(jī)制。

- 動態(tài)老煉：在提供電源電壓的同時，施加適當(dāng)?shù)男盘栂蛄?，使電路?nèi)部節(jié)點(diǎn)翻轉(zhuǎn)。動態(tài)老煉能夠更全面地激發(fā)電路中的潛在缺陷。

- 老煉中測試：將老煉與電性能測試結(jié)合，通過采樣老煉板上器件的輸入、輸出信號，實現(xiàn)實時功能測試。

老煉試驗標(biāo)準(zhǔn)

我司具備依據(jù)以下標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行電子元器件老煉試驗的能力：

- GJB128B-2021 《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》

- GJB548C-2021 《微電子器件試驗方法和程序》

- GJB920A-2002 《膜固定電阻網(wǎng)絡(luò), 膜固定電阻和陶瓷電容器的阻容網(wǎng)絡(luò)通用規(guī)范》

- GJB63C-2015 《有可靠性指標(biāo)的固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范》

- GJB733B-2011 《有可靠性指標(biāo)的非固體電解質(zhì)鉭固定電容器總規(guī)范》

- GJB603A-2011 《有失效率等級的鋁電解電容器通用規(guī)范》

- GJB2283A-2014 《片式固體電解質(zhì)鉭固定電容器通用規(guī)范》

- GJB2829A-2013 《音頻、電源和大功率脈沖變壓器和電感器通用規(guī)范》

通過嚴(yán)格的老煉試驗，可以顯著提高電子元器件的使用可靠性，減少早期失效的發(fā)生。江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方電子元器件檢測機(jī)構(gòu)，專注電子元器件檢測近二十年，可提供電子元器件及零部件的安規(guī)認(rèn)證、老練篩選、車規(guī)級認(rèn)證（AEC-Q100/101/102/103/104/200）、DPA測試、FA失效分析、環(huán)境可靠性驗證等檢測認(rèn)證服務(wù)。

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