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軍用元器件篩選機(jī)構(gòu)

文章來(lái)源 : 粵科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2023-11-13 瀏覽量:

軍用元器件篩選機(jī)構(gòu)

對(duì)于航空航天等軍工科研領(lǐng)域用戶(hù)而言, 二次篩選是軍用電子元器件質(zhì)量與可靠性管控的重要環(huán)節(jié), 是保障航空航天領(lǐng)域高可靠性元器件質(zhì)量和穩(wěn)定性的重要途徑。

江蘇粵科檢測(cè)是專(zhuān)業(yè)第三方軍用元器件篩選機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備電子元器件GJB篩選CNAS檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力,可提供集成電路、分立器件、電阻器、電容器、電連接器等電子元器件二次篩選服務(wù)。


軍用元器件篩選機(jī)構(gòu)


軍用元器件篩選依據(jù)

軍用電子元器件的篩選主要依據(jù)GJB7243-2011《軍用電子元器件篩選技術(shù)要求》進(jìn)行,標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了集成電路、電阻器、電連接器等18大類(lèi)43小類(lèi)的電子元器件篩選方法、程序及要求。

除非另有規(guī)定,篩選應(yīng)遵循原則(GJB7243-2011中4.1條)

a)破壞性試驗(yàn)不能作為元器件試驗(yàn)項(xiàng)目;

b)篩選所加的應(yīng)力(電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力、環(huán)境應(yīng)力等)不得超過(guò)產(chǎn)品規(guī)范規(guī)定的元器件額定應(yīng)力。

應(yīng)力過(guò)大將改變產(chǎn)品原有的失效機(jī)理或產(chǎn)生新的失效模式,應(yīng)力過(guò)?。m然未超過(guò)產(chǎn)品規(guī)定的額定應(yīng)力),但又能剔除早期失效的產(chǎn)品,所以對(duì)于應(yīng)力的選擇應(yīng)采用最有效激發(fā)早期失效的應(yīng)力作為篩選應(yīng)力(不增加產(chǎn)品新的失效機(jī)理、失效模式,產(chǎn)品能正常工作)。


元器件二次篩選適用范圍

不適當(dāng)?shù)亩魏Y選不僅會(huì)增加企業(yè)成本, 還會(huì)對(duì)元器件使用可靠性造成影響, 減少器件使用壽命, 因此元器件二篩不應(yīng)濫用、 泛用, 應(yīng)當(dāng)明確二篩適用范圍如下:

1. 電子元器件制造廠(chǎng)商在出廠(chǎng)時(shí)未對(duì)元器件進(jìn)行一次篩選, 或一次篩選實(shí)施過(guò)程不符合相關(guān)質(zhì)量控制要求;

2. 一次篩選由于工藝或水平限制, 不符合用戶(hù)方質(zhì)量需求;

3. 用戶(hù)方對(duì)一次篩選結(jié)果存在疑慮, 需進(jìn)一步確保質(zhì)量時(shí);

4. 一次篩選的方案設(shè)計(jì)無(wú)法滿(mǎn)足用戶(hù)方對(duì)元器件的質(zhì)量要求時(shí)。


我司可開(kāi)展以下標(biāo)準(zhǔn)電子元器件二次篩選服務(wù)

GJB 7243-2011 《軍用電子元器件篩選技術(shù)要求》

GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》

GJB 548B-2005 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》

GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》

GJB 33A-1997 《半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范》

GJB 5018-2001 《半導(dǎo)體光電子器件篩選與驗(yàn)收通用要求》

GJB 597B-2012 《半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范》

GJB 244A-2001 《有質(zhì)量等級(jí)的薄膜固定電阻器總規(guī)范》

GJB 2828-1997 《功率型線(xiàn)繞固定電阻器總規(guī)范》

GJB 3015-1997 《有可靠性指標(biāo)的非線(xiàn)繞預(yù)調(diào)電位器總規(guī)范》

GJB 920A-2002 《膜固定電阻網(wǎng)絡(luò),膜固定電阻和陶瓷電容器的阻容網(wǎng)絡(luò)通用規(guī)范》

GJB 1432B-2009 《片式膜固定電阻器通用規(guī)范》

GJB 4157A-2011 《高可靠瓷介固定電容器通用規(guī)范》

GJB 191B-2009 《含宇航級(jí)云母固定電容器通用規(guī)范》

GJB 63C-2015 《有可靠性指標(biāo)的固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范》

GJB 2283A-2014 《片式固體電解質(zhì)鉭固定電容器通用規(guī)》

GJB 733B-2015 《有可靠性指標(biāo)的非固體電解質(zhì)鉭固定電容器總規(guī)范》

GJB 603A-2011 《有失效率等級(jí)的鋁電解電容器通用規(guī)范》

GJB 1433-1992 《瓷介微調(diào)可變電容器總規(guī)范》

GJB 1214A-2009 《含宇航級(jí)金屬化塑料膜介質(zhì)密封固定電容器通用規(guī)范》

GJB 601B-2018 《熱敏電阻器通用規(guī)范》

GJB 1782A-2015 《壓敏電阻器通用規(guī)范》

GJB 264A-2011 《機(jī)械濾波器通用規(guī)范》

GJB 1511A-2012 《壓電陶瓷濾波器總規(guī)范》

GJB 2600A-2009 《聲表面波器件通用規(guī)范》

GJB 1518A-2015 《射頻干擾濾波器總規(guī)范》

GJB 1508-199 《石英晶體濾波器總規(guī)范》

GJB 5850-2006 《小型熔斷器通用規(guī)范》

GJB 734A-2002 《旋轉(zhuǎn)開(kāi)關(guān)通用規(guī)范》

GJB1512A-2011 《按鈕開(kāi)關(guān)通用規(guī)范》

GJB 809B-2013 《微動(dòng)開(kāi)關(guān)通用規(guī)范》

GJB 1217A-2009 《電連接器試驗(yàn)方電電連接器試驗(yàn)方法連接》

GJB 2446A-2011 《外殼定位微矩形電連接器通用規(guī)范》

GJB 1438A-2006 《印制電路連接器及其附件通用規(guī)范》

GJB 681A-2002 《射頻同軸連接器通用規(guī)范》

GJB 599B-2012 《耐環(huán)境快速分離高密度小圓形電連接器總規(guī)范》

GJB 65B-1999 《有可靠性指標(biāo)的電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 1515B-2017 《固體繼電器總規(guī)范》

GJB 1517A-2011 《恒溫繼電器通用規(guī)范》

GJB 1513A-2009 《混合和固體延時(shí)繼電器通用規(guī)范》

GJB 1461A-2017 《含可靠性指標(biāo)的電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 2449-1995 《塑封通用電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 2888A-2011 《有失效率等級(jí)的功率型電磁繼電器通用規(guī)范》

GJB 1042A-2002 《電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 2829A-2013 《音頻、電源和大功率脈沖變壓器和電感器通用規(guī)范》

GJB 1864A-2011 《射頻固定和可變片式電感器通用規(guī)范》

GJB 5025-2003 《射頻固定和可變電感器通用規(guī)范》

GJB 2138A-2015 《石英晶體元件總規(guī)范》

GB/T17940-2000 第Ⅱ篇 《半導(dǎo)體器件 集成電路第 3 部分:模擬集成電路》

GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 《半導(dǎo)體器件集成電路第 2 部分:數(shù)字集成電路》

SJ20646-1997 《混合集成電路 DC/DC 變換器測(cè)試方法》

GB/T17574-1998 《半導(dǎo)體器件集成電路第 2 部分:數(shù)字集成電路第Ⅳ篇》

GB/T14028-2018 《半導(dǎo)體集成電路 CMOS 電路測(cè)試方法的基本原理》

GB/T14030-92 《半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理》

GB/T4587-1994 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第 7 部分:雙極型晶體管》

GB/T4586-1994 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體器件 第 8 部分 場(chǎng)效應(yīng)晶體管》

GB/T4023-2015 《半導(dǎo)體分立器件第 2 部分:整流二極管》

GB/T6571-1995 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體器件分立器件第 3 部分:信號(hào)(包括開(kāi)關(guān))和調(diào)整二極管》

SJ/T2215-2015 《半導(dǎo)體光電耦合器測(cè)試方法》

GJB 675A-2002 《有和無(wú)可靠性指標(biāo)的模制射頻固定電感器通用規(guī)范》

SJ/T 10805-2018 《半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測(cè)試方法》

GJB1515B-2017 《固體繼電器總規(guī)范》


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