光電耦合器二次篩選機(jī)構(gòu)

江蘇粵科檢測(cè)是專業(yè)元器件二次篩選機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備光電耦合器GJB標(biāo)準(zhǔn)CNAS檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力，可提供光電耦合器二次篩選、失效分析及環(huán)境可靠性驗(yàn)證服務(wù)。

光電耦合器二次篩選依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

GJB 33A-1997 《半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范》

GJB 5018-2001 《半導(dǎo)體光電子器件篩選與驗(yàn)收通用要求》

GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》

光電耦合器二次篩選項(xiàng)目

1. 內(nèi)部目檢；

2. 常溫電參數(shù)測(cè)試；

3. 高溫貯存；

4. 溫度循環(huán)；

5. 恒定加速度（適用于空封器件）；

6. PIND（適用于空封器件）；

7. 編序列號(hào)；

8. 初始電參數(shù)測(cè)試；

9. 高溫反偏（HTRB）;

10. 中間電參數(shù)測(cè)試；

11. 計(jì)算△值和PD；

12. PDA；

13. 功率老練；

14. 老練后電參數(shù)測(cè)試（計(jì)算△值和PD）；

15. 高溫電參數(shù)測(cè)試；

16. 低溫電參數(shù)測(cè)試；

17. 密封試驗(yàn)（細(xì)檢漏、粗檢漏）；

18. 終點(diǎn)電參數(shù)測(cè)試；

19. 外觀檢查。

光電耦合器電參數(shù)測(cè)試項(xiàng)目

1. 正向壓降；

2. 反向壓降；

3. 反向漏電流；

4. 飽和壓降；

5. 暗電流；

6. 擊穿電壓；

7. 電流傳輸比；

8. 隔離電阻。

我們的優(yōu)勢(shì)

1. 專家團(tuán)隊(duì)

可靠性檢測(cè)專家、定制化服務(wù)、專業(yè)人員技術(shù)培訓(xùn)服務(wù)，擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團(tuán)隊(duì)50余人。

2. 專業(yè)設(shè)備

配備各種規(guī)格的集成電路測(cè)試系統(tǒng)，老煉箱50余臺(tái)、各類環(huán)境箱體20臺(tái)套、機(jī)械性能與可靠性檢測(cè)設(shè)備30臺(tái)套、半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)、模擬器件測(cè)試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測(cè)設(shè)備等。

3. 一站式方案服務(wù)

依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準(zhǔn)確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果，準(zhǔn)確定位元器件失效機(jī)理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。

4. 權(quán)威保障

軍用級(jí)檢測(cè)體系控制+軍方實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可檢測(cè)設(shè)備，保證測(cè)試流程和測(cè)試精度，第三方公正檢測(cè)機(jī)構(gòu)。

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  2024-01-03

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