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晶體管二次篩選項目及要求

文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時間:2024-01-29 瀏覽量:

江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方電子元器件篩選機構,實驗室具備電子元器件GJB篩選檢測資質和檢測能力,可提供雙極型放大晶體管、雙極型開關晶體管、場效應晶體管等晶體管二次篩選服務,接下來為大家介紹晶體管二次篩選項目及要求。


晶體管二次篩選機構.jpg


晶體管二次篩選項目及要求

1. 編序列號

    要求:當要求計算器件電參數(shù)的△值時應編序列號。


2. 電參數(shù)測試(室溫)

    測量參數(shù):hFE、V(BR)CBO、ICBO、V(BR)CBO、ICBO、VCES、gm、VCS(OFF)、IDSS;

    要求:測量參數(shù)及合格標準按詳細規(guī)范或產品手冊規(guī)定。


3. 溫度循環(huán)

    篩選條件:GJB128A 1051方法 條件B:循環(huán) 5 次;

    要求:玻封器件轉換時間為不大于 5min。


4. 恒定加速度

    篩選條件:GJB128A 2006方法 Y1 方向、196000m/s2;額定功率不小于 10W 的器件 98000m/s2;

    要求:無空腔的器件不要求,LTPD=5;不通過時全檢。


5. 外觀及機械檢查

    篩選條件:GJB128A 2071方法 用 10 倍放大鏡或顯微鏡;

    要求:可在篩選開始時增加一次。


6. 粒子碰撞噪聲檢測(PIND)

    篩選條件:GJB128A 2052方法 試驗條件:A;

    要求:LTPD=10;不通過時全檢。


7. 高溫反偏(HTRB)

    篩選條件:GJB128A 1038方法 反偏溫度:125±2℃,反偏電壓:0.75VR,240h/160h/96h/72h/48h;

    要求:其它晶體管不要求做高溫反偏篩選,高溫反偏時間為表列時間減去生產方已進行的高溫反偏。


8. 老練前電參數(shù)測試 (室溫)

    測量參數(shù):同序號 2。


9. 老練(室溫)

    篩選條件:GJB128A 1038方法 試驗條件:B,240h/160h/96h;

    要求:老練時間為表列時間減去生產方已進行的老練時間,但不得少于48h。額定功率大于 1W 的器件可按規(guī)定加散熱器老練,也可不加散熱器按峰值結溫老練。


10. 老練后電參數(shù)測試(室溫)

    測量參數(shù):同序號 2,對合同或詳細規(guī)范要求的參數(shù),計算其Δ值,計算不合格品率。

    要求:Ⅰ級 PDA≤5%(或 1 只取大值);Ⅱ級 PDA≤10%(或 1 只取大值);Ⅲ級 PDA≤15%(或 1 只取大值)。


11. 電參數(shù)測試(高溫)

    測量參數(shù):同序號 2:溫度按合同或詳細規(guī)范規(guī)定;

    要求:LTPD=10;不通過時全檢。


12. 電參數(shù)測試(低溫)

    測量參數(shù):溫度按合同或詳細規(guī)范規(guī)定,測量參數(shù):hFE、V(BR)CBO、ICBO、V(BR)CBO、ICEO、ICBO、gm、IDSS;

    要求:LTPD=10;不通過時全檢。


13. 密封(細檢漏/粗檢漏)

    篩選條件:GJB128A 1071方法 a.試驗條件:G 或 H,b.試驗條件:A、 C、或 F;

    要求:無空腔的器件不要求,內腔體積大于 1cm3僅要求做粗檢漏。


14. 外觀及機械檢查

    篩選條件:GJB128A 2071方法 用 10 倍放大鏡或顯微鏡。


元器件二次篩選流程

1. 收樣、標識、入庫、入系統(tǒng);

2. 目檢;

3. 電參數(shù)測試:按照產品規(guī)格書電性能或電氣性能測試;

4. 老練篩選:高溫、反偏、功率等;

5. 環(huán)境應力測試:振動、沖擊、離心加速度、溫度循環(huán);

6. 密封性檢查:粗細檢漏、PIND;

7. 三溫電參數(shù)測試:按照產品規(guī)格書電性能或電氣性能測試

6. 打點、封裝、出庫。


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