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文章來(lái)源 : 粵科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2024-01-30 瀏覽量:
江蘇粵科檢測(cè)是專業(yè)第三方AECQ101檢測(cè)機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力,可提供二極管、MOS管、IGBT等汽車用半導(dǎo)體分立器件AEC-Q101認(rèn)證測(cè)試服務(wù)。
AEC-Q101是基于失效機(jī)理的分立半導(dǎo)體元件應(yīng)力測(cè)試鑒定,由美國(guó)汽車電子委員會(huì)AEC制定,適用于車用分立半導(dǎo)體元件的綜合可靠性測(cè)試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),是分立半導(dǎo)體元件應(yīng)用于汽車領(lǐng)域的基本門檻。AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)是分立半導(dǎo)體元件(依產(chǎn)品類型、封裝形貌及取樣數(shù)量的要求)執(zhí)行并通過(guò)的必要測(cè)試項(xiàng)目。
二極管、齊納二極管、穩(wěn)壓二極管、整流二極管、TVS管、MOSFET、IGBT等。
AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)將試驗(yàn)項(xiàng)目分為5個(gè)大組,具體測(cè)試項(xiàng)目如下:
A組 加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試
預(yù)處理、高加速應(yīng)力測(cè)試、高溫高濕反向偏壓、無(wú)偏加速應(yīng)力測(cè)試、高壓測(cè)試、溫度循環(huán)、溫度循環(huán)熱試驗(yàn)、溫度循環(huán)分層測(cè)試、間歌運(yùn)行壽命、功率和溫度循環(huán)。
B組 加速壽命模擬測(cè)試
高溫反向偏壓、交流阻斷電壓、穩(wěn)態(tài)操作、高溫柵極偏壓。
C組 封裝結(jié)構(gòu)完整性測(cè)試
破壞性物理分析、物理尺寸、邦線拉力強(qiáng)度、邦線剪切強(qiáng)度、芯片剪切、端子強(qiáng)度、耐溶劑性、耐焊接熱、熱阻、可焊性、晶須生長(zhǎng)評(píng)價(jià)、恒定加速度、變頻振動(dòng)、機(jī)械沖擊、氣密性。
D組 芯片制造可靠性測(cè)試
介電性
E組 電氣特性確認(rèn)測(cè)試
目檢、應(yīng)力測(cè)試前后功能/參數(shù)、參數(shù)驗(yàn)證、ESD HBM 特性描述、ESD CDM 特性描述、無(wú)鉗位感應(yīng)開(kāi)關(guān)、短路可靠性。
AEC-Q101試驗(yàn)報(bào)告是一份詳細(xì)的測(cè)試報(bào)告,用于評(píng)估汽車電子零部件在各種條件下的性能和可靠性。該報(bào)告包括以下內(nèi)容:
1. 測(cè)試目的:明確測(cè)試的性質(zhì)、目的、對(duì)象、參考標(biāo)準(zhǔn)和依據(jù)。
2. 測(cè)試設(shè)備:列出測(cè)試所需的所有設(shè)備和儀器,包括名稱、型號(hào)、規(guī)格和編號(hào)。
3. 測(cè)試條件:描述測(cè)試所需的環(huán)境條件,如溫度、濕度、壓力等。
4. 測(cè)試樣品:描述測(cè)試樣品的特征,如尺寸、重量、顏色等。
5. 測(cè)試程序:詳細(xì)說(shuō)明測(cè)試的步驟和方法,包括測(cè)試前準(zhǔn)備、測(cè)試過(guò)程和測(cè)試后處理。
6. 測(cè)試結(jié)果:記錄測(cè)試過(guò)程中的所有數(shù)據(jù)和結(jié)果,包括圖表、曲線和照片等。
7. 數(shù)據(jù)分析:對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析和解釋,得出結(jié)論和建議。
8. 報(bào)告總結(jié):總結(jié)測(cè)試報(bào)告的主要內(nèi)容和結(jié)論,提出建議和改進(jìn)措施。
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