元器件主要產(chǎn)品類型有阻、容、感類產(chǎn)品，分立器件(半導體二極管、三極管、MOS管、IGBT等)和集成電路IC等；在電子元器件裝上整機或設備之前，就要設法盡可能排除掉存在問題的元器件，為此就要對元器件進行篩選檢測。

本實驗室可針對元器件的最終使用要求，進行有針對性制定篩選方案程序，篩選檢測主要項目有：電性能檢測和老煉前后對比分析，高溫儲存，動態(tài)和靜態(tài)老煉，溫度循環(huán)，高低溫沖擊、離心加速度，檢漏，噪聲顆粒碰撞，監(jiān)控振動和沖擊，元器件失效分析等。

電子元器件二次篩選的適應范圍

A、生產(chǎn)方未進行“一次篩選”，或使用方對“一次篩選”的項目和應力不具體了解；

B、生產(chǎn)方已進行了“一次篩選”但“一次篩選”的項目或應力還不能滿足使用方對質(zhì)量的要求；

C、產(chǎn)品范圍中未具體規(guī)定、生產(chǎn)方也不具備篩選條件的特殊篩選項目；

D、對生產(chǎn)方是否已按合同或規(guī)范的要求進行了“一 次篩選”或對承制方“一次篩選”的有效性有疑問需要進行驗證的元器件。

二次篩選覆蓋的產(chǎn)品范圍

電子元件：電阻、電容、電感、繼電器、磁珠、變壓器、晶體振蕩器、晶體諧振器、繼電器、電連接器等；

半導體分立器件：二極管、三極管、MOS管、IGBT等；

半導體集成電路：CPU、存儲器、FPGA、AD/DA、數(shù)字電路、模擬電路、混合電路、DC/DC等；

電子模塊：電源模塊、通訊模塊、控制模塊等具備相對功能完整電路。

二次篩選測試項目

- 外觀檢查

- 電性能測試：常溫測試/高溫測試/低溫測試

- 環(huán)境/機械應力檢測：掃頻/隨機振動、低溫貯存、高溫貯存、溫度循環(huán)、溫度沖擊、恒定加速度或跌落、密封（粗檢漏、細檢漏） 、粒子碰撞噪聲檢測（PIND）

- 壽命/老化/老煉

- 芯片粘接的超聲檢測

- X射線照相